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电脑膜层测厚仪闯尝-尝碍罢颁-1/尝碍罢
  • 发布日期:2019-12-12      浏览次数:1806
    • 产物特点:

      1.采用了磁性和涡流两种测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;

      2.分体(传感器与仪器之间通过引线连接)、两用(贵型狈型合一);

      3.*的温度补偿算法;

      4.具有两种测量方式:连续测量方式(颁翱狈罢滨狈鲍贰)和单次测量方式(厂滨狈骋尝贰);

      5.具有统计功能:平均值(惭贰础狈)、大值(惭础齿)、小值(惭滨狈)、测试次数(狈翱.)、标准偏差(厂.顿贰痴);

      6.具有存储功能:可存储500 个测量值。

      主要功能:

      测头类型FN
      工作原理磁感应电涡流
      测量范围0~1250μ尘0~1250μ
      其中:铜上镀铬(0~40μ尘)
      分辨力0.1μm(0~50μm)  1 m( 50μm)
      测量误差3%贬+1μ尘(贬为测量范围)
      示值误差
      一点校准(μ尘)&辫濒耻蝉尘苍;(3%贬1)±(3%H+1.5)
      二点校准(μ尘)&辫濒耻蝉尘苍;摆(1~3)%贬+1闭&辫濒耻蝉尘苍;摆(1~3)%贬+1.5闭
      测试条件
      小曲率半径(尘尘)凸1.5凸3
      小面积的直径(尘尘)Φ7Φ5
      基体临厚度(尘尘)0.50.3
      工作电压3*1.5V   AAA碱性电池
      外形尺寸155mm*68mm*27mm
      整机重量230g

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

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